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白光干涉表面形貌儀

產品/服務：
品牌：	CHOTEST中圖儀器
有效期至：	長期有效
最后更新：	2024-12-09 22:28

單價：

面議

最小起訂量：

1 臺

供貨總量：

99 臺

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公司基本資料信息

詳細說明
規(guī)格參數

CHOTEST中圖儀器SuperViewW1白光干涉表面形貌儀集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。主要應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等*域中，測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米*別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。

產品功能

1）SuperViewW1白光干涉表面形貌儀設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能；

2）測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能；

3）測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能；

4）分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數據處理功能；

5）分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能；

6）分析中同時提供*鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

新建項目2.jpg

SuperViewW1白光干涉表面形貌儀測量范圍可從納米*粗糙度到毫米*的表面形貌，可以快速獲取被測工件表面三維形貌和數據進行檢測，可用于成品質量的管理，確保良品合格率。測量過程簡便，只需要操作者裝好被測工件，在軟件里設好視場參數，把物鏡調節(jié)到被測工件表面，選擇自動聚焦后，儀器就會主動找干涉條紋開始掃描測量。然后自動生成工件表面3D圖像，*鍵輸出反映工件表面質量的2D、3D參數，完成工件表面形貌*鍵測量。