| 產(chǎn)品/服務(wù)： | |
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| 品 牌： | 中圖儀器 |
| 有效期至： | 長期有效 |
| 最后更新： | 2024-12-09 22:28 |
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SuperViewW1白光干涉儀檢測產(chǎn)品以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析，是*款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米*測量的檢測儀器。
產(chǎn)品功能
1）設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能；
2）測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能；
3）測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能；
4）分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能；
5）分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能；
6）分析中同時提供*鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。
應(yīng)用
在3C*域，可以測量藍(lán)寶石屏、濾光片、表殼等表面粗糙度；
在LED行業(yè)，可以測量藍(lán)寶石、碳化硅襯底表面粗糙度；
在光纖通信行業(yè)，可以測量光纖端面缺陷和粗糙度；
在集成電路行業(yè)，可以測量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度；
在EMES行業(yè)，可以測量臺階高度和表面粗糙度；
在軍事*域，可以測量藍(lán)寶石觀察窗口表面粗糙度。
SuperViewW1白光干涉儀檢測產(chǎn)品雙通道氣浮隔振系統(tǒng)既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以采用便攜加壓裝置直接加壓充氣的雙通道氣浮隔振系統(tǒng)，在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作，可以有效隔*地面?zhèn)鲗?dǎo)的振動，同時內(nèi)部隔振系統(tǒng)能夠有效隔*聲波振動，確保儀器在車間也能正常工作。
| 品牌： | 中圖儀器 |
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